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干擾對FMU42-APB2A22A選用、使用、安裝的影響
點擊次數:238 發布時間:2017-11-27
各種干擾對FMU42-APB2A22A現貨選用、使用、安裝的影響如下:
介質及環境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時,其反射頻率會受到物料溫度的影響而發生變化,為了補償這一變化,超聲波探頭內裝有溫度傳感器,當探頭向處理器發送反射信號的同時,也把溫度信號送到微處理器,處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。
此外,為了保證探頭的可靠工作,要求環境溫度不超過60℃。
攪拌器對物位計測量的影響
如果物料容器內裝攪拌器,它同樣會反射超聲波信號,造成假反射回波,并被傳送到微處理器。微處理器將根據統計學原理處理真假面具回波,所以要求超聲波從物料表面反射的回波應至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當降低攪拌器的轉速,或將探頭偏離攪拌中心,都可以有效消除攪拌器產生的假面反射對料位測量的影響。
 
FMU42-APB2A22A現貨測量料位的極限值
zui高料位
當一束超聲波脈沖向物料表面傳送過程中,若收到從物料表面來的反射波,將無法進行測量,這段距離就是盲區。物料zui高料位不得高于盲區。
zui低料位
zui低料位也就是使超聲波能到達的距離傳感器的zui遠距離,并且使反射回波能被傳感器接收。由于超聲波在傳播過程中的衰減以及物料表面對聲波的吸收,這一傳播距離對物料性質依賴性很強,對于DU33來說,可測液體范圍為25m,固體范圍為15m。
 
聯系人:徐小姐
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